|
|
Часы работы редакции:
понедельник, четверг: с 10-00 до 13-00
тел: +7(495) 939-11-96
e-mail: uzmu@physics.msu.ru
Бюллетень "Новости науки" физфака МГУ
Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.
XV Всероссийская школа-семинар "Физика и применение микроволн" имени профессора А.П. Сухорукова
Отобранные программным комитетом статьи участников школы-семинара «Волны-2015» будут направлены для публикации в журнал «Ученые записки физического факультета Московского университета».
Журналы » Ученые Записки » Выпуски » 2016 » № 5 |
Загрузить файл: 165412.pdf ( 837 kB )
Ближнеполевой СВЧ микроскоп для измерения проводимости тонких металлических пленок
В.И. Фролов$^1$, В.А. Вдовин$^2$, В.Г. Андреев$^3$
$^1$Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова, физический факультет, кафедра фотоники и физики микроволн Россия,119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2$^2$Институт Радиотехники и Электроники имени В.А.Котельникова РАН Россия, 125009, Москва, ул. Моховая, д. 11, стр. 7
$^3$Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра акустики Россия,119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Описан экспериментальный прототип ближнеполевого микроскопа на базе коаксиального СВЧ резонатора и векторного анализатора цепей R&S ZVA 24. Приведены результаты тестовых измерений сдвига резонансной частоты и добротности резонансной кривой с использованием объемных проводников, изготовленных из металлов с различной проводимостью. Показа-но качественно, что резонансная частота и добротность уменьшаются при приближении зонда к поверхности проводника. Значение добротности минимально при использовании проводника с наименьшей проводимостью.
URL: | http://uzmu.phys.sunmarket.com/abstract/2016/5/165412 |
PACS: | 73.61.-r Electrical properties of specific thin films |
УДК: | |
Цитата: | В.И. Фролов, В.А. Вдовин, В.Г. Андреев. Ближнеполевой СВЧ микроскоп для измерения проводимости тонких металлических пленок // Учен. зап. физ. фак-та Моск. ун-та. 2016. № 5. 165412 |