|
|
Часы работы редакции:
понедельник, четверг: с 10-00 до 13-00
тел: +7(495) 939-11-96
e-mail: uzmu@physics.msu.ru
Бюллетень "Новости науки" физфака МГУ
Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.
XV Всероссийская школа-семинар "Физика и применение микроволн" имени профессора А.П. Сухорукова
Отобранные программным комитетом статьи участников школы-семинара «Волны-2015» будут направлены для публикации в журнал «Ученые записки физического факультета Московского университета».
Журналы » Ученые Записки » Выпуски » 2014 » № 5 |
Загрузить файл: 145321.pdf ( 393 kB )
Модификация метода СВЧ акустической резонаторной спектроскопии тонких слоев и пленок для измерений в широком частотном диапазоне
С.Г. Алексеев, И.М. Котелянский, Н.И. Ползикова, Г.Д. Мансфельд
Россия, 125009, Москва, ул. Моховая,д.11,стр.7Спектр составного акустического резонатора (HBAR) является многомодовым и может содержать несколько тысяч резонансных пиков. Нами разработан комплекс программ, позволяющий записывать сканы спектра с произвольным шагом по частоте во всем диапазоне измерителя S-параметров. Благодаря высокой степени автоматизации обработки сканов мы получаем данные о параметрах (частота и ширина) каждого резонансного пика. Предлагаемый метод увеличивает точность ранее известного метода измерения скорости акустической волны (АВ) в материале путем сравнения спектров HBAR до и после нанесения исследуемого слоя. Для слоев толщиной в несколько длин волн новый метод позволяет получать данные о скорости АВ лишь из одного спектра.
URL: | http://uzmu.phys.sunmarket.com/abstract/2014/5/145321 |
PACS: | 43.35.+d Ultrasonics, quantum acoustics, and physical effects of sound 46.80.+j Measurement methods and techniques in continuum mechanics of solids |
УДК: | 534-8 |
Цитата: | С.Г. Алексеев, И.М. Котелянский, Н.И. Ползикова, Г.Д. Мансфельд. Модификация метода СВЧ акустической резонаторной спектроскопии тонких слоев и пленок для измерений в широком частотном диапазоне // Учен. зап. физ. фак-та Моск. ун-та. 2014. № 5. 145321 |